近期一位客戶委托了一項測試來測量薄膜材料的厚度。這種薄膜材料通常是um級(1um=0.001mm)。用普通方法測量比較困難。在這里，利用一套金相顯微鏡及其配套的軟件測量系統，成功地完成了測量任務。
[檢測原理]用金相顯微鏡檢測斷面，用直尺直接測量金屬鍍層和氧化膜的局部厚度。
【參考標準】GB/t6462-2005
金相顯微鏡及金相測量軟件
金相顯微鏡測量涂層厚度
【檢測范圍】一般情況下，試樣檢測厚度大于1um時，以保證測量結果在誤差范圍內;厚度越大，誤差越小。
金相顯微鏡測量涂層厚度
[試驗方法的優缺點]本試驗方法的優點是：涂層適用范圍內的試驗結果特別準確，誤差很小(差分尺校準后的誤差可以小于0.01um)，可作為一種有爭議的仲裁方法，其缺點是制備涂層厚度樣品費時費力。
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